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磁学知识

永磁体(磁铁)高温退磁原理与检测

作者:小林没别名

 永磁体为什么会在高温下退磁?如何正确检测?

高温磁通不可逆损失试验系统.png
高温磁通不可逆损失试验系统.png

图 1 高温磁通不可逆损失试验系统。老化前后均在相同室温条件下,使用同一套亥姆霍兹线圈和磁通计进行测量。

一、物理原理

永磁体的磁性来自材料内部大量电子磁矩的有序排列。用通俗的“磁畴”模型理解,每个磁畴都像一个具有南、北极的小磁体;磁化后,大量磁畴或晶粒中的磁矩总体朝同一方向排列,它们的作用相互叠加,使磁体在宏观上表现出稳定磁性。

备注

需要说明的是,“无数个小磁铁整齐排列”是一种便于理解的简化模型。对于烧结钕铁硼等高性能稀土永磁材料,实际退磁过程还与晶粒结构、晶界、磁晶各向异性和矫顽力有关,不能完全等同于普通软磁材料中的磁畴壁移动。

当温度升高时,热扰动增强,同时材料的剩磁和矫顽力通常会下降,原本排列整齐的磁畴稳定性随之减弱。当热能足够大时,它就能克服让磁畴保持有序排列的力,导致一部分磁畴开始翻转方向,变得杂乱无章。对外显现为退磁;此时可能出现两类变化:
-可逆磁通损失:磁体在高温下磁性减弱,冷却回原参考温度后基本恢复。
-不可逆磁通损失:部分区域的磁化发生不可逆反转;冷却后仍不能恢复,通常需要重新充磁。
因此,永磁体并不需要达到居里温度才会发生不可逆退磁。对于特定牌号和磁路,当温度升高导致矫顽力下降、局部工作点越过退磁曲线的拐点时,不可逆损失就可能发生。
高温老化温度循环与磁通测量时点.png
高温老化温度循环与磁通测量时点.png
图 2 高温老化温度循环与测量时点。高温阶段的磁通变化包含可逆温度效应,冷却回相同室温后仍未恢复的部分才属于不可逆损失。*

居里温度意味着什么?

当材料达到或超过居里温度时,长程铁磁有序在高温下消失,材料转为顺磁状态。冷却到居里温度以下后,材料会重新出现铁磁有序,但原来的宏观磁化方向通常不会自动完整恢复。因此,更准确的表述不是“磁铁不可逆退磁到精确的 0”,而是:
超过居里温度后,磁体在高温下失去自发磁化;冷却后通常会严重丧失原有的宏观剩磁,如需恢复原性能,一般要重新充磁。

二、局部退磁并不一定从中心开始

永磁体磁化后会产生与原磁化方向相反的内部磁场,即”自退磁场“。自退磁场的平均大小与磁体形状有关:以厚度方向磁化的薄片为例,面积与厚度之比越大,平均退磁因子通常越大,开路状态下越容易受到自退磁影响。
但磁体内部的局部退磁场并不均匀。边缘和尖角处常会出现较强的局部退磁场,材料缺陷、温度梯度和外加反向磁场也会改变最危险的位置。研究表明,永磁材料中的磁化反转往往会受到边缘附近局部退磁场的控制。因此,不能脱离具体形状和工作磁路,笼统断言“磁体一定先从磁化面中心区域退磁”。
霍尔探头单点测量与表面扫描.png
霍尔探头单点测量与表面扫描.png

图 3 霍尔探头单点测量与二维表面扫描。若需判断局部异常,应固定探头姿态与间隙,保存老化前后的完整扫描矩阵并进行差值比较。

 三、为什么单点表磁不能充分判断退磁?

使用高斯计和霍尔探头测量表磁,本质上得到的是某一位置附近的”局部磁感应强度“。读数会明显受到探头位置、探头与磁体间隙、放置角度、感应面积以及磁体几何形状的影响。
因此,问题不在于“常规测量一定取边缘最大值”,而在于:”单个测点(特别是测量磁铁最大值的测试方式)只能代表局部,不能完整代表整块磁体。即使某个测点的高斯值接近正常,也不能排除其他区域已经出现局部退磁。
如果目标是比较退磁前后的整体磁性能,可采用磁通计+亥姆霍兹线圈。在测量几何、样品位置和线圈常数固定的条件下,该方法能够比较磁体整体磁通或磁偶极矩的变化,比单点表磁更适合评价高温造成的整体不可逆损失。
亥姆霍兹线圈和磁通计测量布置.png
亥姆霍兹线圈和磁通计测量布置.png
图 4 亥姆霍兹线圈和磁通计测量布置。样品位于线圈均匀空间内,易磁化方向与线圈轴向平行;该方法反映整体磁通或磁偶极矩,不能直接定位退磁区域。*

 

四、参考标准进行高温不可逆磁通损失测试
可参考现行国家标准 GB/T 40794—2021《稀土永磁材料高温磁通不可逆损失检测方法》。该标准适用于钕铁硼类永磁体;其中常温磁通测试环境为 23 ℃±3 ℃。基本思路是:

 

1. 样品沿易磁化方向饱和充磁,在室温环境中放置不少于 2 h,再测量老化前磁通 \(\Phi_0\);
2. 按规定的温度、时间和开路或半开路条件进行高温老化;
3. 将样品冷却并稳定到与初次测量一致的参考温度;
4. 使用相同仪器、位置和方向复测磁通 \(\Phi_1\),每个样品重复测量 3 次并取平均值;
5. 计算高温磁通不可逆损失:

\[L_{irr}=\frac{\Phi_0-\Phi_1}{\Phi_0}\times100\%\]

测试时应重点控制前后两次室温、样品姿态、线圈与磁通计、恒温时间、样品间距以及开路/半开路条件的一致性。
如果不仅要知道“整体损失了多少”,还要知道“退磁发生在哪里”,则应增加多点或扫描式霍尔测量、磁场成像,必要时结合有限元或微磁仿真。两类方法解决的问题不同:
测量方式 主要回答的问题 主要局限
高斯计/霍尔探头单点测量 这个位置的 B 有多大? 对位置与间隙敏感,不能代表整体
霍尔探头扫描/磁场成像 表面磁场分布是否异常? 仍需结合模型判断内部退磁
磁通计+亥姆霍兹线圈 整体磁通或磁偶极矩损失了多少? 不能直接定位退磁区域